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    • GB/T 8582-2008
    電工電子設備機械結構術語

    Terminology for mechanical structures of electrotechnical and electronic equipment

    GB/T 8582-2008 中，可能用到以下儀器設備

     

    日本電子JSM-6510系列掃描電子顯微鏡

    日本電子JSM-6510系列掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    FEI Quanta x50 FEG場發射環境掃描電鏡

    FEI Quanta x50 FEG場發射環境掃描電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子6700F高分辨掃描電子顯微鏡

    日本電子6700F高分辨掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子JASM-6200 ClairScope 大氣壓掃描電子顯微鏡

    日本電子JASM-6200 ClairScope 大氣壓掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JCM-6000plus NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡

    日本電子JCM-6000plus NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JSM-7200F掃描電子顯微鏡

    日本電子JSM-7200F掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    大氣壓掃描電鏡

    大氣壓掃描電鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    聚焦離子束系統

    聚焦離子束系統

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    Quanta SEM

    Quanta SEM

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    NT-MDT Ntegra Platform 原子力顯微鏡（AFM）平臺

    NT-MDT Ntegra Platform 原子力顯微鏡（AFM）平臺

    上海納騰儀器有限公司

     

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    聚焦離子束系統

    聚焦離子束系統

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    CellHesion200單細胞力譜儀顯微鏡

    CellHesion200單細胞力譜儀顯微鏡

    DT/儀思奇（北京）科技發展有限公司

     

    翻轉式振蕩器

    翻轉式振蕩器

    北京同泰聯科技發展有限公司

     

    SPM-9700HT用納米物理檢測軟件

    SPM-9700HT用納米物理檢測軟件

    島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

     

    島津高分辨率掃描探針顯微鏡 SPM-8000FM型

    島津高分辨率掃描探針顯微鏡 SPM-8000FM型

    島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

     

    SPM-9700掃描探針顯微鏡

    SPM-9700掃描探針顯微鏡

    島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

     

    可控氣氛掃描探針顯微鏡WET-SPM系列

    可控氣氛掃描探針顯微鏡WET-SPM系列

    島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

     

    掃描探針顯微鏡SPM-9700HT

    掃描探針顯微鏡SPM-9700HT

    島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

     

    SPM-8100FM高分辨率原子力顯微鏡

    SPM-8100FM高分辨率原子力顯微鏡

    島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

     

    Anton Paar原子力顯微鏡

    Anton Paar原子力顯微鏡

    安東帕（上海）商貿有限公司

     

    Park FX40原子力顯微鏡

    Park FX40原子力顯微鏡

    德國耶拿分析儀器股份公司

     

    蔡司 EVO MA 25/LS 25鎢燈絲系列掃描電鏡

    蔡司 EVO MA 25/LS 25鎢燈絲系列掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SUPRA? 55場發射掃描電鏡

    蔡司SUPRA? 55場發射掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SUPRA?40超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

    蔡司SUPRA?40超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡

    日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Prisma E SEM掃描電子顯微鏡

    Prisma E SEM掃描電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    FEI Nova NanoSEM x30超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

    FEI Nova NanoSEM x30超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    FEI Inspect S50 掃描電子顯微鏡

    FEI Inspect S50 掃描電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

    FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司（ZEISS） EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡

    蔡司（ZEISS） EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    FEI Inspect F50 場發射掃描電子顯微鏡

    FEI Inspect F50 場發射掃描電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司 EVO MA 15/LS 15鎢燈絲系列掃描電鏡

    蔡司 EVO MA 15/LS 15鎢燈絲系列掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    FEI Magellan 400L XHR 場發射掃描電鏡

    FEI Magellan 400L XHR 場發射掃描電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    日本電子JIB-4500聚焦離子束掃描電鏡

    日本電子JIB-4500聚焦離子束掃描電鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Apollo 300 掃描電鏡

    Apollo 300 掃描電鏡

    TESCAN泰思肯貿易（上海）有限公司

     

    Park Systems 原子力顯微鏡 XE-Bio

    Park Systems 原子力顯微鏡 XE-Bio

    Park Systems

     

    MFP-3D Infinity原子力顯微鏡

    MFP-3D Infinity原子力顯微鏡

    牛津儀器（上海）有限公司

     

    Cypher ES環境控制原子力顯微鏡

    Cypher ES環境控制原子力顯微鏡

    牛津儀器（上海）有限公司

     

    GB/T 8582-2008

    標準號
    GB/T 8582-2008
    發布日期
    2008年06月19日
    實施日期
    2009年04月01日
    廢止日期
    無
    中國標準分類號
    K05;L94
    國際標準分類號
    31.240
    發布單位
    CN-GB
    被代替標準
    GB/T 8582-2000
    適用范圍
    本標準規定了電工電子設備機械結構的通用術語。 本標準適用于電工電子設備機械結構專業領域，供標準制修訂、科技文獻和書刊編寫及出版、企業的機械結構產品開發設計管理等使用。

    GB/T 8582-2008 中可能用到的儀器設備

    掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM 掃描電鏡SEM 過氧化氫滅菌器 搖床、振蕩器

    誰引用了GB/T 8582-2008 更多引用

    GB/T 22764.1-2008 低壓機柜.第1部分:總規范 GB/T 23359-2009 框架式低壓機柜 GB/T 25294-2010 電力綜合控制機柜通用技術要求 GB/T 7267-2015 電力系統二次回路保護及自動化機柜(屏)基本尺寸系列 GB/T 7268-2015 電力系統保護及其自動化裝置用插箱及插件面板基本尺寸系列 GB/T 28568-2012 電工電子設備機柜.安全設計要求 GB/T 28571.1-2012 電信設備機柜.第1部分：總規范 GB/T 31847-2015 電工電子設備機械結構 模數序列及其應用 GB/T 28564-2012 電工電子設備機柜.模數化設計要求


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