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測試時使空氣通過試驗衣料,將空氣中含有的發塵粒子捕到試驗用的濾膜上,用400倍顯微鏡觀察并統計塵埃粒子數。讀出濾膜上面的0.5-5以及5以上的粒子個數。在濾膜上面印有3.08mm的格子,可以讀出一個格子內的粒子數。(2)ASTM-F-51修訂法(計數法)使空氣通過試驗衣料,用粒子計數器測定發塵粒子的大小和個數。...
所以塊狀樣品制備之前,最好與TEM的老師進行溝通和請教,或交由老師制備。?影響透射電子顯微鏡分辨率的因素理論:根據電子顯微學理論,加速電壓越高,理論空間分辨率越高。?缺陷:對于不同的試樣,高加速電壓同時會帶來輻照損傷等問題,影響實際分辨率。影響因素:加速電壓固定后,影響透射電子顯微鏡分辨率的因素可歸結為球差、象散和色差。??...
▍相關測試標準:ASTM E2142-2008? Standard TestMethods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the ScanningElectron Microscope06透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡(TEM)是觀察和分析材料的形貌、組織和結構的有效工具。...
▍相關測試標準:ASTM E2142-2008? Standard TestMethods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the ScanningElectron Microscope透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡(TEM)是觀察和分析材料的形貌、組織和結構的有效工具。...
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