ASTM C1110-03
使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾的X射線發射光譜分析用樣品的標準實施規范

Standard Practice for Sample Preparation for X-Ray Emission Spectrometric Analysis of Uranium in Ores Using the Glass Fusion or Pressed Powder Method

被代替

標準號: ASTM C1110-03
發布: 2003年
發布單位: 美國材料與試驗協會
替代標準: ASTM C1110-03(2008)
當前最新: ASTM C1110-03(2008)

適用范圍: 這種做法對于制備礦體樣本以通過 X 射線發射分析鈾很有用。描述了兩種單獨的制備技術。
1.1 本實踐涵蓋了通過 X 射線發射進行分析的鈾礦石樣品的制備。可以使用兩種單獨的技術，即玻璃熔融法或壓粉法。
1.2 以SI（公制）單位表示的數值應被視為標準。
1.3 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。

專題

x射線樣品制備方法 x射線粉末樣品 x射線粉末樣品制備 x射線粉末樣品制備粉末x射線樣品制備

ASTM C1110-03相似標準

ASTM C1110-88(1997)e1 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾的X射線發射光譜分析用樣品的標準規程 ASTM C1110-03(2008) 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾X射線發射光譜分析用樣品的標準方法 SJ/Z 3206.8-1989 發射光譜分析取樣和制樣方法通則 EJ/T 1158-2002 地浸砂巖型鈾礦取樣規范 GB/T 15676-1995 稀土術語

推薦

X熒光光譜儀制樣方法（二）

分析線的強度和研磨面的方向有關，入射線和出射線構成的平面和磨面研磨方向平行時吸收最小，垂直時吸收最大。采用樣品旋轉就能使這影響平均化。實質上，表面的光潔度不一樣時入射的一次X?射線和熒光X?射線的光程隨表面磨紋的粗細而改變。研磨前后表面光潔度的變化三、粉末樣品粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點（不能用添加劑）。粉末樣品很容易采用標準添加法、稀釋法、低吸收稀釋和高吸收稀釋法、內標法和強度參考內標法。...

X?射線熒光制樣方法淺談（二）

分析線的強度和研磨面的方向有關，入射線和出射線構成的平面和磨面研磨方向平行時吸收最小，垂直時吸收最大。采用樣品旋轉就能使這影響?平均化。實質上，表面的光潔度不一樣時入射的一次X?射線和熒光X?射線的光程隨表面磨紋的粗細而改變。三、粉末樣品粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點（不能用添加劑）。粉末樣品很容易采用標準添加法、稀釋法、低吸收稀釋和高吸?收稀釋法、內標法和強度參考內標法。...

X熒光光譜儀制樣方法詳談

分析線的強度和研磨面的方向有關，入射線和出射線構成的平面和磨面研磨方向平行時吸收最小，垂直時吸收最大。采用樣品旋轉就能使這影響平均化。實質上，表面的光潔度不一樣時入射的一次X 射線和熒光X 射線的光程隨表面磨紋的粗細而改變。研磨前后表面光潔度的變化三、粉末樣品粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點（不能用添加劑）。粉末樣品很容易采用標準添加法、稀釋法、低吸收稀釋和高吸收稀釋法、內標法和強度參考內標法。...

X熒光光譜儀制樣方法總結，不可多得的資料！

很難,保證松散粉末表面結構的重復性，采用壓片法可基本上消除這個問題，某些粉末，有吸濕性，或能與空氣中的氧或二氧化碳起反應，好把它們放入用邁拉膜密封的樣品槽。另外，有些粉末的內聚力小，可與粘結劑混合后壓制成片。然而，粉末樣品,嚴重的問題還是粉末的粒度效應。粉末中某元素的譜線強度不僅決定于該元素的濃度，而且還決定于它的粒度。...

誰引用了ASTM C1110-03 更多引用

ASTM C1022-17(2022) 鈾精礦的化學和原子吸收分析的標準試驗方法

床戏视频

ASTM C1110-03使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾的X射線發射光譜分析用樣品的標準實施規范