ASTM B767-88(2006)
用重量分析法和其它化學分析法測定電沉積涂層及相關涂層單位面積的質量

標準號: ASTM B767-88(2006)
發布: 1988年
發布單位: 美國材料與試驗協會
替代標準: ASTM B767-88(2010)
當前最新: ASTM B767-88(2021)

引用標準: ASTM A309 ASTM B137 ASTM B449 ISO 2081 ISO 2082 ISO 2093 ISO 2106 ISO 3892 ISO 4522-1 ISO 4524-1

適用范圍: 涂層的厚度對其性能至關重要，并且在許多要求涂層的規范中都有規定。這些程序用于驗收測試并出現在一些規范中。涂層厚度儀器通常使用基于質量和面積測量的厚度標準進行校準。僅當涂層材料的密度已知時，測量區域上涂層的平均厚度才能根據其單位面積的質量計算出來。
1.1 本指南概述了確定電鍍、化學鍍、機械的單位面積質量的一般方法。 - 通過重量分析和其他化學分析程序進行沉積、真空沉積、陽極氧化和化學轉化涂層。
1.2 本指南確定測量區域內單位面積的平均質量。
1.3 引用的剝離方法在規范或公開文獻中進行了描述或已被至少一個實驗室常規使用。
1.4 概述的程序可用于許多涂層-基材組合。它們不能用于無法通過化學或物理方式將涂層與基材分離的情況，例如白黃銅鍍有黃黃銅的情況。
1.5 原則上，這些程序可用于測量非常薄的涂層或測量涂層小面積上，但不是小面積上的薄涂層。限制取決于所需的精度。例如，2.5 mg/cm2 的涂層可能需要 2.5 mg 的涂層覆蓋 1 cm2，但 0.1 mg/cm2 的涂層需要 25 cm 2 才能獲得 2.5 mg 的涂層。本標準并不旨在解決所有安全問題，如果有的話，與其使用相關。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。

ASTM B767-88(2006)用重量分析法和其它化學分析法測定電沉積涂層及相關涂層單位面積的質量