ASTM E2056-04
使用代用品混合物校正的多變量分析中使用的分光計和分光光度計鑒定的標準規程

Standard Practice for Qualifying Spectrometers and Spectrophotometers for Use in Multivariate Analyses, Calibrated Using Surrogate Mixtures

被代替

標準號

ASTM E2056-04

發布

2004年

總頁數

10頁

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E2056-04(2010)

當前最新

ASTM E2056-04(2024)

 

 

適用范圍

采用替代校準的標準測試方法的開發人員應該使用這種做法。
5.1.1 此做法有助于測試方法開發人員設置和記錄可執行測試方法的光譜儀/分光光度計的要求。
5.1.2 該做法有助于測試方法開發人員設置和記錄測試方法的光譜數據收集和計算參數。
5.1.3 這種做法有助于測試方法開發人員在可用于建立替代校準的可能的多元分析程序中進行選擇。該實踐描述了應執行的統計測試，以確保測試方法范圍內允許的所有多變量分析程序產生統計上無法區分的結果。
5.1.4 本實踐描述了測試方法開發人員應對校準和鑒定數據執行的統計計算，這些數據應作為建立測試方法精度的 ILS 的一部分而收集。這些計算確定了光譜儀/分光光度計必須滿足的性能水平才能執行測試方法。本實踐描述了校準光譜儀/分光光度計的人員如何測試所述光譜儀/分光光度計的性能以確定該性能是否足以進行測試方法。本實踐描述了光譜儀/分光光度計的用戶如何使光譜儀/分光光度計能夠進行測試方法。
1.1 本實踐涉及用于確定材料的物理和化學特性的光譜儀和分光光度計的多變量校準。實踐 E1655 中給出了一般多變量分析的詳細描述。本標準僅涉及可使用替代混合物建立合適的校準矩陣的情況。本規范規定了實驗室間研究（ILS）的校準和鑒定數據集要求，即采用不完全符合規范 E1655 的替代校準技術的標準測試方法的循環。 注 1——對于某些多元光譜分析，干擾基質效應足夠小，可以使用比最終分析的樣品所含化學成分少得多的混合物進行校準。雖然這些替代方法通常利用實踐 E1655 中描述的多元數學，但它們不符合其中描述的程序，特別是在異常值的處理方面。
1.2 該實踐規定了如何處理 ILS 數據來建立分光光度計/分光光度計性能注 2——光譜儀/分光光度計鑒定程序旨在讓用戶確定特定光譜儀/分光光度計的性能是否足以進行分析，以獲得與已公布的測試方法精度。
1.2.1 替代測試方法中使用的光譜包括但不限于中紅外和近紅外、紫外/可見光譜、熒光和拉曼光譜。
1.2.2 本實踐中涵蓋的替代校準是：多重線性回歸 (MLR)、主成分回歸 (PCR) 或偏最小二乘 (PLS) 數學。這些校準程序在實踐 E1655.1.3 中詳細描述。對于替代測試方法，該實踐建議對測試方法中允許的校準選項應施加的限制。具體來說，這種做法建議測試方法開發人員證明......

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