IEC 60749-32 Corrigendum 1-2003
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

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標準號

IEC 60749-32 Corrigendum 1-2003

發布日期

2003年08月

實施日期

廢止日期

無

中國標準分類號

L40

國際標準分類號

31.080.01

發布單位

國際電工委員會

適用范圍

This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-32-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced))

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