DIN EN 60749-1:2003
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第1部分:總則
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003
- 標準號
- DIN EN 60749-1:2003
- 發布
- 2003年
- 發布單位
- 德國標準化學會
- 替代標準
- DIN EN 60749-1:2003-12
- 當前最新
- DIN EN 60749-1:2003-12
- 被代替標準
- DIN EN 60749:2002 DIN EN 60749-1:2002
- 適用范圍
- DIN EN 60749 的這一部分適用于半導體器件（分立器件和集成電路），并制定了該系列所有其他部分通用的規定。
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