ISO 10110-7:2008
光學和光子學.光學元件和設備制圖的準備工作.第7部分:表面缺陷公差
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 7: Surface imperfection tolerances
- 標準號
- ISO 10110-7:2008
- 發布
- 2008年
- 總頁數
- 12頁
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 替代標準
- ISO 10110-7:2017
- 當前最新
- ISO 10110-7:2017
- 引用標準
- ISO 10110-1:2006 ISO 14997:2003
- 適用范圍
- ISO 10110 規定了用于制造和檢驗的技術圖紙中單個光學元件和光學組件的設計和功能要求的表示。 ISO 10110 的這一部分規定了單個光學元件和光學組件的有效孔徑內表面缺陷的可接受水平的指示。 這些包括局部表面缺陷、邊緣缺口和長劃痕。 應當注意的是，指定局部缺陷的可接受水平時考慮了功能效果（影響圖像形成或光學元件的耐用性）以及裝飾（外觀）效果。 ISO 10110 的這一部分適用于成品光學元件的透射和反射表面（無論是否鍍膜）以及光學組件。 它認識到可以根據部件或光學組件中受缺陷影響的區域來指定允許的缺陷。