IEC 62132-3:2007
集成電路.150kHz～1GHz電磁抗擾性的測量.第3部分:大容量電流注入(BCI)法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method
- 標準號
- IEC 62132-3:2007
- 發布
- 2007年
- 總頁數
- 42頁
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 62132-3:2007
- 引用標準
- IEC 62132-1:2006
- 被代替標準
- IEC 47A/773/FDIS:2007
- 適用范圍
- IEC 621 32 的這一部分描述了一種大電流注入（BCI）測試方法，用于測量集成電路（IC）在存在傳導射頻干擾時的抗擾度，例如．此方法僅適用于具有板外接線的 IC，例如。 g． into a Cableharness．該測試方法用于在一根或多根電線上注入射頻電流。該標準為評估在受到不需要的射頻電磁信號的環境中使用的設備中應用的半導體器件建立了一個共同基礎。