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JEDEC JEP78-1969
半導體紅外線探測儀的相對頻譜響應曲線

Relative Spectral Response Curves for Semiconductor Infrared Detectors

JEDEC JEP78-1969 中，可能用到以下儀器設備

探測器光譜響應測量系統

北京卓立漢光儀器有限公司/ZOLIX

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標準號: JEDEC JEP78-1969
發布: 1969年
總頁數: 23頁
發布單位: (美國)固態技術協會,隸屬EIA
當前最新: JEDEC JEP78-1969

以下 S 曲線的陰影區域表示光譜形狀的范圍，該范圍可以是從幾個不同的制造商獲得的特定類型的光電探測器所指定的。應該注意的是，某些類型的光電探測器（特別是鉛鹽探測器和本征硅探測器）的光譜響應在制造過程中可能會發生變化。此處顯示的曲線代表了更常見或“典型”的探測器類型。

JEDEC JEP78-1969 中可能用到的儀器設備

近紅外光譜儀紅外光譜儀半導體專用檢測儀器設備

專題

紅外測油儀標準曲線遠紅外線測試儀器遠紅外線測試儀器紅外線體溫儀半導體+紅外探測紅外生命探測儀紅外光譜曲線紅外線對中儀相對光譜曲線紅外線對中儀紅外線對中儀器 PD的光譜響應曲線

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