<td id="ccaac"></td>

<table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>

JEDEC J-STD-035-1999
非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡

Acoustic Microscopy for Nonhermetic Encapsulated Electronic Components

標準號: JEDEC J-STD-035-1999
發布: 1999年
總頁數: 18頁
發布單位: (美國)固態技術協會,隸屬EIA

適用范圍: 該測試方法定義了對現場封裝的電子元件進行聲學顯微鏡檢查的程序。該方法為用戶提供了一種聲學顯微鏡流程，可以無損地檢測塑料封裝中的異常情況（分層、裂紋、舊化合物空洞等），同時實現可重復性。

專題

電子元件顯微鏡電子元件顯微鏡二次元電子顯微鏡二次元電子顯微鏡顯微鏡電子元器件元器件電子顯微鏡泰坦電子顯微鏡作用顯微鏡電子目鏡有什么用為什么用電子顯微鏡顯微鏡有多少元顯微鏡多少元

JEDEC J-STD-035-1999相似標準

IPC J-STD-035-1999 非氣密封裝電子元件聲學顯微鏡 IEC PAS 62191:2000 非氣密封裝電子元件的聲學顯微鏡 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡[替代:IPC TM-650 2.6.22] IPC JEDEC J-STD-035A-2022 非氣密封裝電子產品用聲學顯微鏡 IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 非氣密封裝電子元件的聲學顯微鏡（包含修正案 1：2007年1月）

JEDEC J-STD-035-1999 中可能用到的儀器設備

電化學部件

Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證：京ICP證110310號
頁面更新時間: 2025-02-06 15:41

<td id="ccaac"></td>

<table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>