JEDEC JESD22-B108A-2003
表面裝貼半導體儀器的共面性測試
Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices
JEDEC JESD22-B108A-2003 中，可能用到以下儀器
- 標準號
- JEDEC JESD22-B108A-2003
- 發布
- 2003年
- 發布單位
- (美國)固態技術協會,隸屬EIA
- The purpose of this test is to measure the deviation of the terminals (leads or solder balls) from coplanarity for surface-mount semiconductor devices.