ISO 16773 的這一部分提供了有關優化從高阻抗系統收集 EIS 數據的指導。完整涂層中的高阻抗是指阻抗大于 10Ω?cm 的系統。這并不排除對阻抗較低的系統進行測量。 ISO 16773 的這一部分涉及 - 儀器設置:要求和陷阱; - 數據驗證:檢查測量范圍和數據的準確性; - 進行 EIS 測量:樣品注意事項和儀器參數; - 實驗結果:呈現EIS數據...
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