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  • GB/T 4583-2007
    電動工具噪聲測量方法 工程法

    Measurement of noise emitted by electric tools Engineering method

    GBT4583-2007, GB4583-2007


    GB/T 4583-2007 中,可能用到以下儀器設備

     

    尼康ECLIPSE MA100倒置金相顯微鏡

    尼康ECLIPSE MA100倒置金相顯微鏡

    德國賽多利斯集團

     

    Leica DM4000M半自動金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

     德國徠卡 手動倒置金相顯微鏡 DM ILM

    德國徠卡 手動倒置金相顯微鏡 DM ILM

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡DMI 8M金相顯微鏡

    徠卡DMI 8M金相顯微鏡

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡金相顯微鏡

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    BG系列磨拋機

    BG系列磨拋機

    美國力可公司

     

    GR20粗磨機

    GR20粗磨機

    美國力可公司

     

    SS1000磨拋機

    SS1000磨拋機

    美國力可公司

     

    PCR系組織勻漿器

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    北京中科科爾儀器有限公司

     

    全自動多通道均質器

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    北京同泰聯科技發展有限公司

     

    全自動均質器

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    北京同泰聯科技發展有限公司

     

    Leica徠卡 DM2700M 金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    Leica徠卡DM 2500M正置金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    Leica MEF4金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    德國徠卡 公安自動宏觀比對顯微鏡 FS C

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    德國徠卡Leica DM12000 M 正置研究級金相顯微鏡

    德國徠卡Leica DM12000 M 正置研究級金相顯微鏡

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡DMI 5000M智能數字式全/半自動倒置金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    德國徠卡 智能正置金相顯微鏡 DM4M

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    德國徠卡 電動正置金相顯微鏡 DM6M

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    德國徠卡 手動正置金相顯微鏡 DM750M

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    Leica全自動清潔度分析系統

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

     德國徠卡 正置金相顯微鏡 DM12000M

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡DM 8000M金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡 DM2500M材料分析顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡 DMI3000M倒置研究級工業應用顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    徠卡自動化放射性材料研究顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    Leica DM 2700M徠卡金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    德國徠卡 精研一體機 EM TXP

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    Leica DMLIM倒置金相顯微鏡

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    leica DM6000M全自動正置金相

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    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    蔡司Axio Scope A1材料研究的正置金相顯微鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司Axio Vert.A1研究級倒置式材料顯微鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司研究級倒置材料顯微鏡Axio Observer 3/5/7

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司(ZEISS)分析級正立式材料顯微鏡Axio Lab.A1 MAT

    蔡司(ZEISS)分析級正立式材料顯微鏡Axio Lab.A1 MAT

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司(ZEISS)研究級智能數字金相顯微鏡Axioimager A2m

    蔡司(ZEISS)研究級智能數字金相顯微鏡Axioimager A2m

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司ZEISS裂變徑跡顯微分析系統

    蔡司ZEISS裂變徑跡顯微分析系統

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司裂變徑跡顯微分析系統

    蔡司裂變徑跡顯微分析系統

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司Axio Scope A1正立式顯微鏡

    蔡司Axio Scope A1正立式顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司Axio Scope A1材料研究的正置金相顯微鏡

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    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    蔡司Axio Vert.A1研究級倒置式材料顯微鏡

    蔡司Axio Vert.A1研究級倒置式材料顯微鏡

    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    蔡司研究級倒置材料顯微鏡Axio Observer 3/5/7

    蔡司研究級倒置材料顯微鏡Axio Observer 3/5/7

    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    蔡司ZEISS裂變徑跡顯微分析系統

    蔡司ZEISS裂變徑跡顯微分析系統

    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    蔡司裂變徑跡顯微分析系統

    蔡司裂變徑跡顯微分析系統

    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    蔡司Axio Scope A1正立式顯微鏡

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    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    奧林巴斯BX53M金相顯微鏡

    奧林巴斯BX53M金相顯微鏡

    奧林巴斯(中國)有限公司

     

    GB/T 4583-2007

    標準號
    GB/T 4583-2007
    別名
    GBT4583-2007
    GB4583-2007
    發布
    2007年
    采用標準
    ISO 3744:1994 NEQ
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 4583-2007
     
     
    引用標準
    GB/T 17181-1997 GB/T 3241-1998 GB/T 3785-1983 GB/T 3947-1996 GB/T 4129-2003 GB/T 6882-1986 ISO 11094:1991 ISO 354:2003 ISO 3744:1994 ISO 8662-7:1997
    被代替標準
    GB/T 4583-1995
    本標準屬于工程級測量方法,適用于各類電動工具(以下簡稱工具)在穩定運轉狀態下的噪聲測量。 本標準規定使用A計權聲功率級的測量方法。在一個或多個反射平面(室內或室外)內,在包絡聲源的測量表面上測量聲壓級以計算聲源聲功率級的方法,同時給出了測試環境、測量儀器的要求,以及表面聲壓及聲功率級的計算方法。聲功率級的測定結果的準確度等級為2級。 ...

    GB/T 4583-2007相似標準


    GB/T 4583-2007 中可能用到的儀器設備


    誰引用了GB/T 4583-2007 更多引用





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