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BS ISO 22489:2007
微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive X-ray spectroscopy

被代替

2016-10

標準號: BS ISO 22489:2007
發布: 2007年
發布單位: 英國標準學會
替代標準: BS ISO 22489:2016
當前最新: BS ISO 22489:2016

被代替標準: 05/30118737 DC:2005

適用范圍: ISO 22489:2006 規定了通過使用安裝在電子探針顯微分析儀或掃描電子上的波長色散光譜儀分析電子束產生的 X 射線來識別的微米級樣品中元素的定量要求顯微鏡。它描述了定量分析的原理，該技術在元素、質量分數和參考樣品方面的一般覆蓋范圍，對儀器的一般要求，以及所涉及的基本程序，例如樣品制備、實驗條件的選擇、測量、分析和報告。它旨在使用法線入射光束對平坦且均勻的塊狀樣本進行定量分析。它沒有指定儀器或數據縮減軟件的詳細要求。操作員應從所使用的任何產品的制造商處獲取儀器的安裝條件、詳細操作程序和規格等信息。

專題

雙光子波長三光子波長電子探針 x射線量分析波譜和能譜的優缺點

BS ISO 22489:2007相似標準

KS D ISO 22489:2012 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品 ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品 ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品 NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進行塊狀樣品的定量點分析 DZ/T 0121.8-1994 地質儀器術語地質物探資料數據處理設備術語

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