BS EN 62373:2006
金屬氧化半導體場效應晶體管(MOSFET)的基本溫度穩定性試驗
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
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- 標準號
- BS EN 62373:2006
- 發布
- 2006年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS EN 62373:2006
- 被代替標準
- 04/30113801 DC-2004
本國際標準提供了金屬氧化物半導體、場效應晶體管（MOSFET）的偏置溫度（BT）穩定性測試的測試程序。