⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。 ? ⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。 ? ⒌測量前要注意周圍其他的電器會不會發生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。 ? ⒍測量時要注意不要在轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。 ?...
8、測量過程中探頭的放置，探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。這是涂層測厚儀（其他測厚儀，如超聲波測厚儀也是這樣）測量中要注意的問題。 9、試片的變形及試片本身的誤差，探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會出現一定的誤差。 10、測量次數，對于數據要求經度比較高的測量要實行多次測量求平均值，精度要求更高的可以多臺儀器測量求平均值。 ...
b?基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。c?邊緣效應不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。d?曲率不應在試件的彎曲表面上測量。e?讀數次數通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。...
影響測量精度的原因（1） 覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;（2） 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;（3） 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;（4） 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.（5） 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大...
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