This part of DIN EN 62132 describes a method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e. g. resulting from radiated RF disturbances. This method guarantees a high degree of repeatability and correlation of immunity measurements.#,,#
DIN EN 62132-4-2006由德國標準化學會 DE-DIN 發布于 2006-10,并于 2006-10-01 實施。
DIN EN 62132-4-2006 在中國標準分類中歸屬于: L56 半導體集成電路,在國際標準分類中歸屬于: 31.200 集成電路、微電子學,33.100.20 抗擾度。
* 在 DIN EN 62132-4-2006 發布之后有更新,請注意新發布標準的變化。
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