電感耦合等離子體質譜—ICP-MS(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)技術是幾乎克服了傳統方法的大多數缺點,并在此基礎上發展起來的更加完善的元素分析法,因而被稱為當代分析技術的重大發展。...
例如:表面化學分析二次離子質譜硅中砷的深度剖析方法(GB/T32495-2016)、鋼鐵錫、銻、鈰、鉛和鉍的測定電感耦合等離子體質譜法(GB/T32548-2016)。...
(一)電感耦合等離子體扇場質譜分析法(ICP-SFMS)測定含鈾物料中的稀土元素Zsolt Varga等(2010)通過電感耦合等離子體扇場質譜分析法(ICP-SFMS)測定含鈾物料中的痕量鑭系元素。該方法是一種新穎、簡單的方法,用TRUTM樹脂對鑭系元素選擇性提取和色層分離,隨后,用ICP-SFMS分析。方法的測定限為<pg/g(比不經化學分離好2個數量級)。...
ICP-OES和ICP-MS的異同實際上,常見的ICP分析技術除了ICP-OES之外,還有一種很常見的是電感耦合等離子體-質譜(ICP-MS),兩者用途是一致的,主要的不同在于分析系統,AES利用的是原子發射光譜進行定性定量分析,而MS利用的是離子質譜,采用質荷比不同而進行分離檢測。...
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