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上一篇文章回顧：宏觀X射線熒光成像（MA-XRF）01分? ?類便攜式X射線熒光(portable X-ray fluorescence, pXRF ）斑點分析是一種非侵入-非破壞式分析技術。光譜儀無需接觸檢測對象，也未出現過檢測對象因 pXRF斑點分析發生輻射損傷的情況。02說? ?明pXRF斑點分析是一種表面元素分析技術，是藝術品和其他文物材料研究領域最便利、最常用的技術。...
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬和峰面積。譜的數學解法已研究出多種，并已編制成計算機程序。...
本文對近二十年來X射線熒光光譜儀在稀土分析方面的應用進行了綜述。總結了環境、礦物、稀土富集物、單一稀土化合物、稀土金屬、合金、稀土功能材料以及過程分析中稀土元素的X射線熒光光譜分析方法,檢測方法涉及鋼鐵、有色金屬、石油化工、地質、生物、電子材料等領域。展望了X射線熒光分析方法在稀土行業的應用前景。?更多還原...
?X射線熒光光譜通常用于分析均勻樣品中的成分含量。對于大多數樣品來講，樣品中被激發的各個元素的X射線熒光只來自于樣品表面，樣品內部的X射線熒光被樣品本身吸收了。所以，X射線熒光信號的強度與樣品的厚度無關。這種樣品稱之為無限厚樣品。?當樣品很薄時，比如鍍層樣品，樣品中被激發的X射線熒光可能會穿透鍍層，鍍層的厚薄會影響X射線熒光信號的強弱，鍍層越厚，鍍層中被激發的X射線熒光信號就越強。?...
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