DIN EN ISO 3497:2001由德國標準化學會 DE-DIN 發布于 2001-12。
DIN EN ISO 3497:2001 在中國標準分類中歸屬于: A29 材料防護,在國際標準分類中歸屬于: 17.040.20 表面特征。
該文件規定了使用 X 射線光譜法測量金屬涂層厚度的方法。
FT110A還符合標準ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987中概述的測量方法。它能夠確定從鈦(22)到鈾(92)的鍍層厚度,并繼續為未來新開發的創新鍍層提供所需的精度。了解更多…如需了解FT110A的所有功能并安排樣機演示,請聯系我們。您可以在“閱讀原文”查看FT110A臺式光譜儀的完整技術概述。...
X射線鍍層膜厚測試儀Ux-720,該款儀器特別為頗具挑戰性的RoHS/ WEEE分析而研發。而且,它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬,分析金的成分重復性可達0,5 ‰。可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。 使用安全簡便,堅固耐用節省維護費用。而且,它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。...
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