對于流體物理研究所的12MV脈沖X射線裝置,其光子能譜是一個重要的物理參量。當用12MV脈沖射線作為相關實驗研究的輻射源時,得到的實驗結果的物理解釋也需要足夠的譜的數據。但由于高能高注量軔致輻射的光子譜難以用通常的在線式γ譜儀測量,所以用透射系數數值分析的方法對12MV-X射線譜作了初步的實驗測定...
用穿透系數數值分析的疊代最小二乘法對穩態加速器的X射線能譜進行了實驗測定,編寫了疊代最小二乘法的計算程序...
本文提出一個直接利用薄膜和襯底的X射線能譜來同時測定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜發出的各元素的標識X射線強度比確定其成分,利用NaCl襯底的Nak_α和Clk_α標識X射線的強度隨膜厚增大而衰減的定量關系確定膜厚,本方法不需要純元素的塊狀標樣,對在NaCl襯底上沉積的Cu-Si合金薄膜的成分和...
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論...
Copyright ?2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號
頁面更新時間: 2024-12-25 11:48