ISO 8289:2000
釉瓷和搪瓷 檢查和定位缺陷的低電壓試驗
Vitreous and porcelain enamels - Low voltage test for detecting and locating defects
ISO 8289:2000 發布歷史
ISO 8289:2000由國際標準化組織 IX-ISO 發布于 2000-08。
ISO 8289:2000 在中國標準分類中歸屬于: Y20 日用玻璃、陶瓷、搪瓷、塑料制品綜合。
ISO 8289:2000 釉瓷和搪瓷 檢查和定位缺陷的低電壓試驗的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO 8289:2000 。
ISO 8289:2000的歷代版本如下：
- 2000年 ISO 8289:2000 釉瓷和搪瓷 檢查和定位缺陷的低電壓試驗
- 1986年 ISO 8289:1986 釉瓷和搪瓷.檢測和確定缺陷位置的低電壓試驗
本國際標準規定了兩種低電壓測試，用于檢測和定位搪瓷涂層中延伸至基體金屬的缺陷。 方法A（電氣）適用于快速檢測和確定缺陷的大致位置。 方法 B（光學）基于顏色效果，適合更精確地檢測缺陷及其確切位置。 方法 A 通常適用于平坦表面，而方法 B 則適用于更復雜的形狀。 注 1：選擇正確的測試方法對于區分方法 B 檢測到的電導率增加的區域與延伸到基體金屬的實際孔隙至關重要，這兩種方法都可以檢測到。 注 2：低電壓測試是一種非破壞性檢測缺陷的方法（見第 3 條），因此與 ISO 2746 中規定的高電壓測試完全不同。 高電壓和低電壓測試的結果不具有可比性，并且會有所不同。
采用 ISO 8289 的發行版本有：
- CSN ISO 8289:1994 玻璃和搪瓷．故障檢測及定位用低壓測試
- DS/EN ISO 8289:2001 搪瓷和搪瓷 檢測和定位缺陷的低壓試驗
- EN ISO 8289:2001 釉瓷和搪瓷.檢測和確定缺陷位置的低電壓試驗 ISO 8289-2000
- KS L ISO 8289-2001(2016) 搪瓷和搪瓷缺陷檢測和定位的低壓試驗
- KS L ISO 8289-2001(2021) 釉瓷和搪瓷檢測和定位缺陷的低壓試驗
- KS L ISO 8289:2001 釉瓷和搪瓷.檢測和確定缺陷位置的低電壓試驗
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- 標準號
- ISO 8289:2000
- 發布
- 2000年
- 總頁數
- 8頁
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 8289:2000