GB/T 18032-2000
砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗方法
The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
GBT18032-2000, GB18032-2000
- 標準號
- GB/T 18032-2000
- 別名
- GBT18032-2000, GB18032-2000
- 發布
- 2000年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 18032-2000
- 適用范圍
- 本標準規定了砷化鎵單晶AB微缺陷的檢驗方法。 本標準適用于砷化鎵單晶AB微缺陷密度（AB－EPD）的檢驗。檢驗面為（100）面。測量范圍小于 5 X 10<上角5> cm<上角-2>
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