ISO 5436-1:2000
產品幾何量技術規范(GPS) 表面結構:輪廓法 測量標準 第1部分:材料測量
Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method; Measurement standards - Part 1: Material measures
說明：
- 此圖僅顯示與當前標準最近的5級引用；
- 鼠標放置在圖上可以看到標題編號；
- 此圖可以通過鼠標滾輪放大或者縮小；
- 表示標準的節點，可以拖動；
- 綠色表示標準：ISO 5436-1:2000 ， 綠色、紅色表示本平臺存在此標準，您可以下載或者購買，灰色表示平臺不存在此標準；
- 箭頭終點方向的標準引用了起點方向的標準。
- 標準號
- ISO 5436-1:2000
- 發布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 19067.1-2003 (等同采用的中文版本)
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 5436-1:2000
- 引用標準
- ISO 10012-1:1992 ISO 12085:1996 ISO 3274:1996 ISO 4287:1997 ISO 4288:1996 ISO/TS 14253-2:1999
- ISO 5436 的這一部分規定了用作測量標準（標準具）的材料測量的特性，用于通過 ISO 3274 中定義的輪廓方法測量表面紋理的儀器的計量特性的校準。
推薦
徠卡課堂 | 表面計量學簡介（下）
?12085表面結構：輪廓法——圖形參數https://www.iso.org/standard/20867.htmlISO?12780直線度——第2部分：規范操作集https://www.iso.org/standard/53623.htmlISO?12781平面度——第2部分：規范操作集https://www.iso.org/standard/53625.htmlISO?13565表面結構：輪廓法...
幾何量數字化測量方法與裝備的現狀及發展趨勢
激光雷達可對金屬、復合材料等多種表面進行輪廓測量，具有很好的適應性（可適應高亮反射、 漫反射和各種精細表面），目前已廣泛應用于航空整機及部件測量、航天衛星外形輪廓測量等領域。...
誰引用了ISO 5436-1:2000 更多引用
BS EN ISO 12179:2022 產品幾何規格（GPS）表面紋理：輪廓法 接觸式（觸針）儀器的校準
ISO 12179:2021 產品幾何技術規范（GPS）.表面結構:輪廓法.接觸（觸針）儀器的校準
ISO 11952:2014 表面化學分析. 掃描探針顯微鏡. 使用SPM測定幾何量:測量系統校準
BS EN ISO 25178-70:2014 幾何產品規范(GPS). 表面紋理: 面. 材料測量
DIN EN ISO 5436-2:2013 幾何產品規范(GPS). 表面紋理: 輪廓法; 測量標準. 第2部分: 軟件測量標準(ISO 5436-2-2012); 德文版本EN ISO 5436-2-2012
ISO 5436-2:2012 產品幾何技術規范(GPS).表面結構:輪廓法.測量標準.第2部分:軟件測量標準
EN ISO 5436-2:2012 幾何產品規范(GPS)-表面紋理:剖面方法;測量標準.第2部分:軟件度量標準
EN ISO 25178-701:2010 產品的幾何技術規范(GPS).表面紋理:平面.第701部分:接觸式(觸針)儀器的校準和測量標準
ISO 25178-701:2010 產品的幾何技術規范(GPS).表面紋理:平面.第701部分:觸點(觸針)儀器的測量和校準標準
BS EN ISO 12179:2001 產品幾何技術規范(GPS).表面結構.輪廓法.接觸式(觸針)儀器的校準