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    • IEC 60748-1-1984
    半導體器件.集成電路.第1部分:總則

    Semiconductor devices. Integrated circuits.. Part 1 : General

    IEC 60748-1-1984 發布歷史

    IEC 60748-1-1984由國際電工委員會 IX-IEC 發布于 1984。

    IEC 60748-1-1984 在中國標準分類中歸屬于: L55 微電路綜合，在國際標準分類中歸屬于: 31.200 集成電路、微電子學。

    IEC 60748-1-1984的歷代版本如下：

    IEC 60748-1-1984 由 IEC 60148-1969 變更而來。

    IEC 60748-1-1984 由 IEC 60148B-1979 變更而來。

     

     

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    標準號
    IEC 60748-1-1984
    發布日期
    1984
    實施日期
    廢止日期
    無
    中國標準分類號
    L55
    國際標準分類號
    31.200
    發布單位
    IX-IEC
    代替標準
    IEC 60748-1-2002
    被代替標準
    IEC 60148-1969 IEC 60148A-1974 IEC 60148B-1979

    IEC 60748-1-1984系列標準

    IEC 60748-1 AMD 1-1991 半導體器件.集成電路.第1部分:總則.修改件1 IEC 60748-1 AMD 2-1993 第2次修改 IEC 60748-1 AMD 3-1995 半導體器件.集成電路.第1部分:總則.修改件3 IEC 60748-11 AMD 1-1995 半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路(不包括混合電路)分規范 修改1 IEC 60748-11 AMD 2-1999 半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路(不包括混合電路)分規范 修改2 IEC 60748-11-1-1992 半導體器件 集成電路 第11部分:第1節:半導體集成電路(不包括混合電路)內部目檢 IEC 60748-11-1:1992 半導體器件 - 集成電路 - 第11-1部分:不包括混合電路的半導體集成電路的內部目視檢查 IEC 60748-11-1990/AMD1-1995 修改件1.半導體器件.集成電路.第11部分:不包括混合電路的半導體集成電路分規范 IEC 60748-2 AMD 1-1991 半導體器件.集成電路.第2部分:數字集成電路.第1次修改 IEC 60748-2 AMD 2-1993 第2次修改 IEC 60748-2-1-1991 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第1節:雙極單片數字集成門電路(不包括自由邏輯陣列) IEC 60748-2-10-1994 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第10節:集成電路動態讀/寫存儲器空白詳細規范 IEC 60748-2-11-1999 半導體器件 集成電路 第2-11部分:數字集成電路 單電集成電路可擦、可編程、只讀存儲器集成電路空白詳細規范 IEC 60748-2-12-2001 半導體器件 集成電路 第2-12部分：數字集成電路 可編程邏輯器件（PLDs）空白詳細規范 IEC 60748-2-9:1994 半導體器件 - 集成電路 - 第2部分:數字集成電路 - 第9節:MOS紫外線可擦除電可編程只讀存儲器的空白詳細規范 IEC 60748-2-2 AMD 1-1994 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第2節:HCMOS數字集成電路(54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列)族規范 修改1 IEC 60748-2-2-1992/AMD1-1994 修改件1——半導體器件 集成電路第2部分:數字集成電路第2節:54/74 HC、54/74 HCT、54/74 HCU系列HCMOS數字集成電路系列規范 IEC 60748-2-2-1992/AMD1-1994 修改件1——半導體器件 集成電路第2部分:數字集成電路第2節:54/74 HC、54/74 HCT、54/74 HCU系列HCMOS數字集成電路系列規范 IEC 60748-2-20-2008 半導體器件.集成電路.第2-20部分:數字集成電路.系列規范.低壓集成電路 IEC 60748-2-3-1992 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第3節:HCMOS數字集成電路(54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列)空白詳細規范 IEC 60748-2-4-1992 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第4節:MOS數字集成電路族規范,4000B和4000UB系列 IEC 60748-2-5-1992 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第5節:MOS數字集成電路(4000B和4000UB系列)空白詳細規范 IEC 60748-2-6-1992 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第6節:微處理器集成電路空白詳細規范 IEC 60748-2-7-1992 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第7節:熔絲式可編程雙極只讀存儲器集成電路空白詳細規范 IEC 60748-2-8-1993 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第8節:靜態讀/寫存儲器集成電路空白詳細規范 IEC 60748-2-9-1994 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第9節:MOS紫外線擦除可編程只讀存儲器空白詳細規范 IEC 60748-20 AMD 1-1995 半導體器件 集成電路 第20部分:膜集成電路和混合膜集成電路總規范 修改1 IEC 60748-20-1-1994 半導體器件 集成電路 第20部分:膜集成電路和混合膜集成電路總規范 第1節:內部目檢要求 IEC 60748-20-1:1994 半導體器件 - 集成電路 - 第20部分:薄膜集成電路和混合薄膜集成電路的通用規范 - 第1部分:內部目視檢查的要求 IEC 60748-20-1988/AMD1-1995 修改件1——半導體器件 集成電路 第20部分:薄膜集成電路和混合薄膜集成電路總規范 IEC 60748-21-1-1997 半導體器件 集成電路 第21-1部分:實行鑒定批準程序的膜集成電路和混合膜集成電路空白詳細規范 IEC 60748-21-1:1997 半導體器件集成電路第21-1部分:坯料 薄膜集成電路和混合薄膜詳細規范 基于資格認證的集成電路 程序 IEC 60748-22-1-1997 半導體器件 集成電路 第22-1部分:實行能力批準程序的膜集成電路和混合膜集成電路空白詳細規范 IEC 60748-22-1:1997 半導體器件 - 集成電路 - 第22-1部分:基于能力審批程序的薄膜集成電路和混合薄膜集成電路的空白詳細規范 IEC 60748-23-1-2002 半導體器件.集成電路.第23-1部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.總規范 IEC 60748-23-2-2002 半導體器件.集成電路.第23-2部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.內部審查和特殊試驗 IEC 60748-23-3-2002 半導體器件.集成電路.第23-3部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.生產者自審清單和報告 IEC 60748-23-4-2002 半導體器件.集成電路.第23-4部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.空白詳細規范 IEC 60748-23-5-2003 半導體器件.集成電路.第23-5部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.鑒定批準 IEC 60748-3 AMD 1-1991 半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 修改1 IEC 60748-3 AMD 2 Corrigendum 1-1996 半導體器件.集成電路.第3部分:模擬集成電路.修改件2 IEC 60748-3 AMD 2-1994 半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 修改2 IEC 60748-3-1-1991 半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 第1節:單片集成電路運算放大器空白詳細規范 IEC 60748-3-1:1991 半導體器件 集成電路 - 第3部分:模擬集成電路 - 第一部分:單片集成運算放大器的空白詳細規范 IEC 60748-3-1986/AMD1-1991 修改件1——半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 IEC 60748-3-1986/AMD2-1994 修正案2——半導體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 IEC 60748-4 AMD 1-1991 半導體器件.集成電路.第4部分:界面集成電路.第1次修改 IEC 60748-4 AMD 2-1994 第2次修改 IEC 60748-4-1-1993 半導體器件 集成電路 第4部分:接口集成電路 第1節:線性數字/模擬轉換器空白詳細規范 IEC 60748-4-3:2006 半導體器件 - 集成電路 - 第4-3部分:接口集成電路 - 模擬數字轉換器（adc）的動態標準 IEC 60748-4-2-1993 半導體器件.集成電路.第4部分:接口集成電路.第2節:線性模擬-數字轉換器空白詳細規范 IEC 60748-4-3-2006 半導體器件.集成電路.第4-3部分:接口集成電路.模擬/數字轉換器(ADC)的動力學標準 IEC 60748-5-1997 半導體器件 集成電路 第5部分:半定制集成電路

    誰引用了IEC 60748-1-1984 更多引用

    GOST 28578-1990 半導體器件.機械及氣候試驗


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