ISO 8769-2:1996
校準表面污染監測儀的參考源第2部分:能量小于0.15MeV的電子和能量小于1.5MeV的光子

Reference sources for the calibration of surface contamination monitors - Part 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than 1,5 MeV

作廢

標準號: ISO 8769-2:1996
發布: 1996年
發布單位: 國際標準化組織
當前最新: ISO 8769-2:1996

適用范圍: 指定用于校準可追溯至國家測量標準的表面污染監測儀的參考源的特征。涉及一系列發射能量低于 0.15 MeV 的電子和能量低于 1.5 MeV 的光子的源。

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應確保放射性標準源滿足檢驗要求，如γ譜儀標準源的γ光子能量應涵蓋待測核素的主要光子能量，大小、體積、介質和容器材料應與樣品相同。...

2．1 原理儀器測量中能量轉換過程：射線能量大部分先被溶劑分子吸收使之受激，溶劑分子從激發態回到基態時釋放出能量傳給閃爍劑，閃爍劑從激發態復原時將多余能量以光子形式釋出，每種閃爍各有特定的發射光譜，若發射光譜與光電倍增管的光譜相匹配，則光子到達光陰極后形成光電子。以放大后輸出脈沖至記錄系統，如光譜匹配不良可加第二閃爍劑吸收第一閃爍劑發出的光子，釋出本身的特征光子，使光子匹配得以改善，提高計數效率。...

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四、XPS實驗技術1、樣品的制備技術為利于真空進樣,對于塊狀樣品和薄膜樣品,其長寬最好小于10mm,高度小于5mm。對于粉末樣品,一般是將其粘在雙面膠帶上或壓入銦箔(或金屬網)內,或者把把粉體樣品壓成薄片,然后再固定在樣品臺上。對于表面有污染的樣品,在進入真空系統前必須用溶劑清洗(萃取)去除表面污染物。對于能耐高溫的樣品,可采用高真空下加熱的辦法除去樣品表面吸附物。...

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