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DIN 50433-2:1976
無機半導體材料的檢驗.第2部分:采用反射光影法測定單晶體取向

Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of optical reflection figure

作廢

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標準號: DIN 50433-2:1976
發布: 1976年
發布單位: 德國標準化學會
當前最新: DIN 50433-2:1976

適用范圍: 半導體無機材料測試；通過光學反射圖確定單晶的取向測試礦物半導體材料；通過光學反射測定單晶的取向

專題

半導體材料各向同性

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