DANSK DS/IEC TS 63202-4:2022
光伏電池 第4部分：晶體硅光伏電池光照和高溫引起的性能下降的測量

Photovoltaic cells – Part 4: Measurement of light and elevated temperature induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells

標準號

DANSK DS/IEC TS 63202-4:2022

發布

2022年

發布單位

SCC

當前最新

DANSK DS/IEC TS 63202-4:2022

 

 

適用范圍

IEC TS 63202-4:2022 描述了在模擬陽光下測量晶體硅光伏 (PV) 電池的光和高溫誘導衰減 (LETID) 的程序。IEC 63202-1 涵蓋了測量晶體硅 PV 電池初始光誘導衰減 (LID) 的要求，其中評估了 PV 電池在中等溫度下和 20 kWh·m-2 終止標準內的初始持續時間內的 LID 衰減風險。本文件中描述的程序用于評估 PV 電池在高溫和較長時間光照下的衰減行為。本文件中描述的程序可用于檢測 PV 電池的 LETID 風險 [2],[3] 并判斷 LETID 緩解措施的有效性，例如用于生產監控的快速測試，從而有助于提高 PV 模塊的能量產量。

DANSK DS/IEC TS 63202-4:2022相似標準

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