1.1 本測試方法提供了測量平面材料對平面遠場電磁波的電磁(EM)屏蔽效能(SE)的程序。根據測量的數據,可以計算電薄樣品的磁 (H) 源的近場 SE 值。2,3 也可以根據相同的遠場數據計算電 (E) 場 SE 值,但它們的值不同。有效性和適用性尚未確定。 1.2 該測量方法在30 MHz至1.5 GHz頻率范圍內有效。這些限制并不精確,但基于較低頻率下電...
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