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  • GB/T 2423.7-2018
    環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設備型樣品)

    Environmental testing—Part 2:Test methods—Test Ec:Rough handling shocks,primarily for equipment—type specimens

    GBT2423.7-2018, GB2423.7-2018


    標準號
    GB/T 2423.7-2018
    別名
    GBT2423.7-2018, GB2423.7-2018
    發布
    2018年
    總頁數
    13頁
    發布單位
    國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會
    當前最新
    GB/T 2423.7-2018
     
     
    引用標準
    GB/T 2423.39 IEC 60068-2-27 ISO 4180-2:1980 ISO 48:2007
    被代替標準
    GB/T 2423.7-1995 GB/T 2423.8-1995
    適用范圍
    環境試驗 本部分為 GB/T 2423 的第 7 部分,規定了電工電子產品環境試驗的方法。
    術語描述
    傾跌與翻倒試驗
    Tilt and drop tests
    評估設備在傾斜和翻倒過程中承受能力的方法。
    自由跌落試驗
    Free fall tests
    測試設備從一定高度自由下落后的性能變化。

    GB/T 2423.7-2018 中提到的儀器設備

    試驗臺
    混凝土或鋼材制成,表面平滑堅硬。
    用于進行傾跌與翻倒試驗的基礎平臺。
    滾筒試驗設備
    由鋼板和木板制成,適合重復自由跌落試驗。
    模擬樣品在運輸或搬運中多次跌落的環境。

    其他標準

    GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Eb和導則; 碰撞 GB/T 2423.44-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘 GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.9-2001 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Cb: 設備用恒定濕熱 GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 GB/T 191-2008 包裝儲運圖示標志 GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環) GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗A: 低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗B:高溫 GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓 YD/T 2379.2-2011 電信設備環境試驗要求和試驗方法.第2部分:中心機房的電信設備 GB/T 2423.50-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.18-2021 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GJB 4.2-1983 艦船電子設備環境試驗 高溫試驗 GB/T 2423.3-2016 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.5-2019 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.10-2019 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc: 振動(正弦) GB/T 2423.17-2024 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧 T/CIDA 0007-2021 箱式超聲波明渠流量計

    專題


    GB/T 2423.7-2018相似標準


    GB/T 2423.7-2018系列標準

    GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗A: 低溫 GB/T 2423.10-2019 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc: 振動(正弦) GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:傾斜和搖擺 GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T 2423.11-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動--高再現性 GB/T 2423.13-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動--中再現性 GB/T 2423.14-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動--低再現性 GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ga和導則: 穩態加速度 GB/T 2423.16-2022 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長霉 GB/T 2423.17-2024 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧 GB/T 2423.18-2021 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.19-2013 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗 GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗B:高溫 GB/T 2423.20-2014 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗 GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓 GB/T 2423.22-2012 環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗N:溫度變化 GB/T 2423.23-2013 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Q:密封 GB/T 2423.24-2022 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗S:模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣候老化試驗導則 GB/T 2423.25-2008 電工電子產品 環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.26-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.27-2020 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗 GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗T:錫焊 GB/T 2423.29-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度 GB/T 2423.3-2016 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

    誰引用了GB/T 2423.7-2018 更多引用





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