JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)
低溫度存儲壽命試驗方法
Test Method A119A - Low Temperature Storage Life
JEDEC JESD22-A119A-2015(2021) 發布歷史
JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)由/ 發布于 2021-05-01，并于 0000-00-00 實施。
JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)在國際標準分類中歸屬于: 35.060 信息技術用語言。
JEDEC JESD22-A119A-2015(2021) 低溫度存儲壽命試驗方法的最新版本是哪一版？
JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)已經是當前最新版本。
本試驗適用于評估、篩選和監控所有固態設備的可靠性。低溫存儲測試通常用于確定在儲存條件下時間與溫度對熱激活失效機制的影響，包括非易失性內存設備（數據保留失效機制）。此測試可能具有破壞性。
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- 標準號
- JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)
- 發布
- 2021年
- 總頁數
- 10頁
- 發布單位
- /
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