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OS GSO ISO 13067:2015
微束分析電子背散射衍射平均晶粒尺寸的測量

Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size

標準號: OS GSO ISO 13067:2015
發布: 2015年
發布單位: 阿曼規格和計量局
當前最新: OS GSO ISO 13067:2015

介紹: 該標準描述了使用電子背散射衍射（EBSD）技術測定材料平均晶粒尺寸的方法。詳細規定了實驗條件、數據采集和處理步驟，以及結果分析方法，適用于各種金屬和合金的微結構研究。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

專題

背散射粒度分析背散射電子衍射的透射微衍射

OS GSO ISO 13067:2015相似標準

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