ASTM E20-85
ASTM E20-85

標準號

ASTM E20-85

發布

1970年

發布單位

/

當前最新

ASTM E20-85

 

 

引用標準

ASTM D1366 ASTM E11 ASTM E161 ASTM E799

適用范圍

1,l 本實踐涉及使用光學顯微鏡直接測量來確定顆粒尺寸，只要顆粒形狀和被檢查物質的折射率允許。
1.2 這種做法對于廣泛用于確定是否符合規范來說太耗時。 它可以用于兩個目的：
1.2.1 這種做法可以用作更快和常規方法校準的基礎，因為它代表了一種基本方法粒徑測定的實踐。
1.2.2 這種做法在定義顆粒不是球形的情況以及在顆粒尺寸分析的沉降和淘析技術中應用斯托克定律有問題的情況時特別有用。
1.3 這種做法完全適用于均質材料。 在混合物的情況下，應用范圍受到混合物組分的性質的限制。
1.4 這種做法最適用于 0.2 點到 75 點之間的尺寸范圍。 下限由顯微鏡的分辨率決定。 上限不太明確，但通常由較大顆粒的測量難度增加來確定，因為它們的厚度與光學系統的焦深相關，并且通過針對此類尺寸的優選篩分分析方法的可用性來確定， 1.4.1 最細的標準篩孔徑為 38 ym（400 號篩），盡管 45 和 75 ym（分別為 325 號和 200 號篩）的篩孔更普遍且更適用于此目的。 孔徑小于 38 pm（400 號篩）的電鑄篩（9）* 可按照規范 E 161 中的規定獲得。
1.4.2 孔徑小于 38 pm（400 號篩）的篩子的可用性以及用途超聲波方法清潔電鑄篩，共同使得可以將樣品分成更小的尺寸范圍，更容易在顯微方法中操作。 對于非常大的顆粒尺寸范圍，首先應分離和分析那些尺寸高于亞篩范圍的顆粒，并通過采用幾個放大倍率或至少幾個級別的焦點在分析中對亞篩范圍的顆粒進行光學分離。 對于大尺寸范圍，應遵守 7.1 和 9.3 中討論的特殊預防措施。
1.5 這種做法涉及自動化方法的光學方面，但不涉及電子方面。
1.6 有關氣溶膠液滴的數據介紹，請參見實踐 E 799。

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