IPC TM-650 2.5.5.1B-1986
絕緣材料在 1 MHz 時的介電常數（介電常數）和損耗角正切（耗散因數）（接觸電極系統）

Permittivity (Dielectric Constant) and Loss Tangent (Dissipation Factor) of Insulating Material at 1 MHz (Contacting Electrode Systems)

適用范圍: 該方法描述了一種使用接觸電極在 1 MHz 頻率下測定絕緣材料的體積介電常數（介電常數）和損耗角正切（耗散因數）的技術。描述了幾種技術，使用測量的材料的實際厚度@測試樣本的幾何形狀以及材料的電容和電導值來計算所需的屬性。該測試的準確性本質上受到精確測量厚度的能力的限制@但是@使用有效電極面積的估計值@雜散電容和設備公差也可能導致顯著的誤差。在金屬復合材料上使用首選方法 (A) 應減少與厚度測量相關的介電常數誤差（對于超過 0.005 英寸的材料，該誤差應低于 2%）@ 以及與有效電阻相關的誤差（低于 1%）。面積測定。使用方法 B@C 或 D 確定的值可能與實際值相差 5% 或更多。除了厚度測定之外，由于實際樣品電容的減少，誤差隨著樣品厚度的增加而增加。方法 B 和 C 適用于薄材料，而方法 D 主要適用于 0.020 英寸以上的材料。為了更準確地測量介電常數（介電常數），兩種流體方法1 可以輕松實現優于 1% 的測量。對于 0.005 英寸以下的薄膜@，建議使用雙流體方法 IPC-TM-650@ 方法 2.5.5.3。