隨著粉體技術的發展,對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高,特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達到幾百甚至幾十個納米,測量上限要求達到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度分析儀設計者提出了極大的挑戰。? ? 顆粒越細,散射光的角度越小,微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內都有分布。為了拓展儀器的測量下限。需要有非常規的光學設計。...
為說明馬爾文在微粉大顆粒檢驗中的問題,上一期我們先講了什么是大顆粒,今天我們就來系統說說這個問題。本文是周波老師所著,獨家授權發表,請大家轉載時注明出處。歡迎分享正確認識和使用激光粒度分析儀周波教授級高工1、概述激光粒度分析儀是近二十幾年來快速發展起來的一種新型粒度分析儀。...
不過,激光粒度分析儀也存在一些局限性,如樣品顏色和形狀的限制,對于大部分黑色或透明顆粒的測量不太適用,此外,對于有嚴重聚集現象的顆粒測量可能存在偏差,因此需要優化樣品的預處理方法。總體而言,激光粒度分析儀是一種準確、智能化的測量分析儀器,對于顆粒分析和研究領域的發展具有重要意義。...
激光粒度分析儀的測量原理要求在測試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握,因此在實際的粒度測試中,通過調整遮光比的數值來盡量保證顆粒之間不發生二次散射。...
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