渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流,此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關,因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。?...
渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流,此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關,因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。...
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