質譜 基質 飛行時間質譜技術指標:1.電離源:基質輔助激光解吸電離源2.線性和反射兩種檢測模式:線性方式的質量范圍 m/z?50-300,000Da,適用于蛋白、核酸、聚合物及納米簇的檢測反射方式質量范圍:50-?5000 Da,適用于小分子、多肽、脂質等檢測3.激光器波長為337 nm:可解吸寬質量范圍的有機化合物,并適用于細胞和細菌的直接檢測4.?...
切片質量和基質覆蓋一直是IMS的一個技術瓶頸.近年來,一些研究者和質譜公司開發了新型基質噴涂設備和技術,改善了切片前處理方法,大大提高了質譜成像技術的靈敏度和分辨率。儀器(如圖1)主要由兩部分組成:基質輔助激光解吸電離離子源(MALDI)和飛行時間質量分析器(TOF)。...
9、基質輔助激光解吸電離質譜技術?基質輔助激光解吸電離質譜技術(MALDI-MS)是將待測物懸浮或溶解在一個基體中,基體與待測物形成混晶,當基體吸收激光的能量后,均勻傳遞給待測物,使待測物瞬間氣化并離子化。基體的作用在于保護待測物不會因過強的激光能量導致化合物被破壞。...
基質輔助激光解吸電離除與飛行時間結合外,同樣可以與其它離子分離手段如四級桿、離子阱等相連接。但脈沖式的激光解吸電離方式無疑與在飛行時間質譜中同樣采用脈沖式離子提取方式在耦合上有著許多優勢,從而促成了MALDI-TOF這一質譜技術的出現。這一質譜儀器的發展史也是MALDI這一分子電離技術與TOF離子分離技術的相互依賴、相互推進的發展歷程。 ...
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