ASTM E2729-09
分光光度計帶通差分校正的標準實踐

Standard Practice for Rectification of Spectrophotometric Bandpass Differences

被代替

適用范圍: 如果不進行這樣的校正，則會導致與頻譜真實值的差異約為 0.02 至 0.4 ΔE*ab 單位。所有用戶都必須糾正此類帶通差異。計算機程序的編寫者尤其有責任從儀器獲取此類光譜，以確保在對光譜進行任何附加處理或完成涉及光譜的計算之前或在光譜之前在程序中實施有效的校正。可供用戶使用。傳統測量系統明確免除任何硬件或軟件改造的要求，并且可以繼續利用以前接受的帶寬校正方法。
1.1 本標準概述了可用于至少部分地解卷積光譜帶通差異的方法通過簡化分光光度法獲得的原始光譜數據。引入這種差異是因為光譜通帶必須具有足夠的帶寬以允許足夠的能量到達檢測器。另一方面，應該報告的光譜數據是虛擬 1 nm 帶寬光譜的光譜數據，以便在涉及 1 nm 求和的 CIE 三刺激積分方法中有用。
1.2 該標準規定了是否、何時以及如何對通過簡化分光光度法獲得的任何反射或透射光譜進行帶通校正的實踐。
1.3 適用于通帶形狀為三角形且帶寬等于通帶之間的測量間隔的情況。當該條件未得到滿足時，第 7 節會向用戶提供信息。
1.4 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。