ASTM E1829-14(2020)
表面分析前處理標本的標準指南
Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface Analysis
- 標準號
- ASTM E1829-14(2020)
- 發布
- 2020年
- 總頁數
- 5頁
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 當前最新
- ASTM E1829-14(2020)
- 引用標準
- ASTM E1078 ISO 18115-1 ISO 18115-2
- 適用范圍
- 1.1 本指南涵蓋表面分析之前的樣品處理和準備，并適用于以下表面分析學科：
1.1.1 俄歇電子能譜 (AES)、1.1.2 X 射線光電子能譜（XPS 或 ESCA）和 1.1.3 二次分析離子質譜（SIMS）。
1.1.4 雖然主要針對 AES、XPS 和 SIMS，但這些方法也適用于許多表面敏感分析方法，例如離子散射光譜法、低能電子衍射和電子能量損失光譜法，其中樣品處理會影響表面敏感測量。
1.2 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任建立適當的安全、健康和環境實踐，并在使用前確定監管限制的適用性。
1.3 本國際標準是根據世界貿易組織貿易技術壁壘（TBT）委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認的標準化原則制定的。