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GB/T 43226-2023
宇航用半導體集成電路單粒子軟錯誤時域測試方法

Single-event soft error time domain testing method for semiconductor integrated circuits used in aerospace applications

GBT43226-2023, GB43226-2023

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標準號: GB/T 43226-2023
別名: GBT43226-2023, GB43226-2023
發布: 2023年
發布單位: 國家質檢總局
當前最新: GB/T 43226-2023

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