DB35/T 1193-2011
半導體發光二極管芯片
Semiconductor LED chip
- 標準號
- DB35/T 1193-2011
- 發布
- 2011年
- 總頁數
- 16頁
- 發布單位
- 福建省地方標準
- 當前最新
- DB35/T 1193-2011
- 適用范圍
- 本標準規定了半導體發光二極管芯片產品（以下簡稱芯片）的術語和定義、技術要求、試驗方法、檢驗規則、包裝、貯存和運輸。 本標準適用于可見光半導體發光二極管芯片。紫外光和紅外光半導體發光二極管芯片以及外延片的測試可參考執行
專題
DB35/T 1193-2011相似標準
推薦
全國半導體照明電子行業測試標準發布
，工作組在半導體照明材料、芯片技術、封裝產品檢驗和測試方法上取得了突破性進展，并相繼主持制定了9項行業標準。本次大會發布了這9項標準：《半導體光電子器件功率發光二極管空白詳細規范》、《半導體發光二極管測試方法》、《氮化鎵基發光二極管用藍寶石襯底片》、《半導體發光二極管用熒光粉》、《功率半導體發光二極管芯片...
如何儲存半導體芯片產品？
半導體芯片產品貯存環境指南???多數半導體電子元器件都需要在干燥條件下作業和存放，潮濕的環境會腐蝕損壞各類敏感的半導體電子元器件,精密光學器件等，特別是當半導體電子元器件、芯片等原料長期暴露在高濕空氣環境中時，如果不及時采取有效的防潮措施就會導致元件報廢，并且非常多電子元件是半導體設備的核心零件...
顯微課堂 | 半導體芯片應用案例
芯片表面明暗場對比BF??DF?? ? 左右滑動查看更多? ??在現代顯微鏡觀察檢驗方法中 , 尤其在工業顯微鏡應用領域，除了常規的明視場BF（Bright field）和暗視場DF(Dark field)觀察方法, 微分干涉相襯觀察法 (DIC：Differential interference...
半導體芯片推拉力測試設備
力標精密設備(深圳)有限公司，是一家研發、生產、銷售為一體的多功能推拉力測試機生產廠家，產品主要應用于:微電子行業、半導體封裝、LED封裝、攝像頭模組、功率模塊、光通訊等封裝行業的精密檢測，公司堅持自主創新不斷優化產品核心技術，我們擁有專門的研發團隊，可根據不同客戶的需求提供訂制化精密測量儀器，滿足...