IEC 61788-17:2021
超導性第17部分:電子特性測量大面積超導薄膜中的局部臨界電流密度及其分布

Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films

適用范圍: 本部分IEC 61788規定了通過使用三次諧波電壓的感應方法測量大面積高溫超導（HTS）薄膜中的局部臨界電流密度（Jc）及其分布。精確測量的最重要考慮是通過電場標準在液氮溫度下確定Jc，并從其頻率依賴性中獲得電流-電壓特性。盡管可以在施加的直流磁場（21）中測量Jc，但本文件的范圍僅限于在沒有直流磁場的情況下進行測量。該技術本質上測量的是臨界片電流，即Jc與薄膜厚度d的乘積。HTS薄膜的Jc d范圍和測量分辨率如下。 - Jc d：從200 A/m到32 kA/m（基于結果，非限制性）。 - 測量分辨率：100 A/m（基于結果，非限制性）。

臨界電流密度 critical current density	高溫超導薄膜中的局部臨界電流密度（Jc）
高溫超導薄膜 high-temperature superconducting (HTS) films	大面積高溫超導薄膜
感應方法 inductive method	使用三次諧波電壓的感應方法