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T/CIE 126-2021
磁隨機存儲芯片測試方法

Magnetic random access memory chip test method

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標準號: T/CIE 126-2021
發布: 2021年
發布單位: 中國團體標準
當前最新: T/CIE 126-2021

適用范圍: 本標準給出了磁隨機存儲(Magnetic Random-Access Memory; MRAM)芯片測試方法的術語、測試原理、測試環境、測試設備、測試程序等。本標準適用于磁隨機存儲芯片測試和磁隨機存儲芯片關鍵性能（可靠性和電學參數等）驗證。

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