電感耦合高頻等離子體質譜法( ICP-MS) ICP ?-MS技術是20世紀80年代發展成熟起來的一種痕量、超痕量多元素同時分析技術。ICP-MS 綜合了等離子體極高的離子化能力和質譜的高分辨、高靈敏度及連續測定多元素的優點, 檢出限低至(0.001～0.1) ng/ml ,測定的線性范圍寬達5～6 個數量級, 還可測定同位素比值。...
國家金銀制品質量監督檢驗中心（南京） 楊鹔副主任 來自國家金銀制品質量監督檢驗中心（南京）的楊鹔副主任詳細解讀了GB/T18043-2013《首飾 貴金屬含量的測定X射線熒光光譜法》標準使用常見問題。 ...
如金光譜標樣對直讀光譜儀、X-熒光光譜儀等儀器的校準； 二是作為已知物質，用以評價測量方法。當測量工作用不同的方法或不同的儀器進行時，已知物質可以有助于對新方法和新儀器所測出的結果進行可靠程度的判斷。如金化學標準樣品可用于對不同儀器所制定的檢測方法，如ICP-AES法、ICP-MS法、MP-AES法等進行可靠性評定； 三是作為控制物質，與待測物質同時進行分析。...
常用的手段有質譜分析（采用電感耦合高頻等離子質譜ICP-MS分析儀，金屬中痕量雜質可達0.1ppb 以下，分析靈敏度0.01ppb），中子和帶電粒子活化分析（具有較高的靈敏度，如反應堆的種子通量位1013 中子數/cm2?S時，可分析到10-9-10-10g范圍），光譜分析（使用最多的是化學光譜法），X射線熒光光譜分析等。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證：京ICP證110310號