0451 X射線衍射法 是非強制性國家標準,您可以免費下載預覽頁
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第二法 粉末 X 射線衍射法粉末 X 射線衍射法可用于樣品定性或定量的物相分析。每種化學物質,當 其化學成分與固體物質狀態(晶型)確定時,應該具有獨立的特征 X 射線衍射 圖譜和教據,衍射圖譜信息包括衍射峰數量、衍射峰位置(2θ 值或 d 值)、衍 射峰強度(相對強度,絕對強度)、衍射峰幾何拓撲(不同衍射峰間的比例) 等。粉末 X 射線衍射法適用于對晶態物質或非晶態物質的定性鑒別與定量分析。...
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