透射電鏡,即透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱 TEM),是一種最高分辨率可達到0.1-0.2納米的顯微鏡,是觀察和研究超微結構的重要工具。...
來源:分子科學測試表征系列之SEM掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是,①有較高的放大倍數,20-20萬倍之間連續可調;②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;③試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。...
如果要進行EBSD測試,最好也用銀膠。EBSD采集要經過70度的傾轉,重力力矩較大,而導電膠帶有一定的彈性,可能會因為重力緣故而逐步拉伸,導致樣品漂移。此外,平時大多數試樣都是采用碳導電膠帶進行粘貼,不過如果要進行極限分辨率的觀察,最好也用銀膠,以進一步增加導電性。我們粘貼樣品的目的是使得樣品要觀察的表面要能和樣品臺底座之間具有導電通路,而不是僅僅認為表面導電就好。...
如圖四所示,從復合改性碳纖維/HA復合材料斷口的掃描電鏡照片可以看到碳纖維表面的涂層具有獨特的多孔結構, 還可觀察到碳纖維在復合材料彎曲受力時的纖維脫粘、 拔出和斷裂痕跡。圖四 改性碳纖維/HA 復合陶瓷樣品斷口形貌照片c)微區化學成分分析在樣品的處理過程中,有時需要提供包括形貌、成分、晶體結構或位向在內的豐富資料,以便能夠更全面、客觀地進行判斷分析。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號