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SJ 2214.4-1982
半導體光敏二極管反向擊穿電壓的測試方法

Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes

被代替

2015-10

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標準號: SJ 2214.4-1982
發布: 1982年
總頁數: 4頁
發布單位: 行業標準-電子
替代標準: SJ/T 2214-2015
當前最新: SJ/T 2214-2015

專題

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