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  • GB/T 34177-2017
    光刻用石英玻璃晶圓

    Quartz glass wafer for lithography

    GBT34177-2017, GB34177-2017


    標準號
    GB/T 34177-2017
    別名
    GBT34177-2017, GB34177-2017
    發布
    2017年
    總頁數
    11頁
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 34177-2017
     
     
    引用標準
    GB/T 32189 GB/T 3284-2015 GB/T 5949 JC/T 185 JC/T 2205 JC/T 655
    適用范圍
    本標準規定了光刻用石英玻璃晶圓的術語和定義、分類、要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸和貯存。適用于半導體集成電路、光通訊、微機電系統(MEMS)、光電器件和發光二極管(LED)等光刻工藝中用做襯底的石英玻璃晶圓。
    術語描述
    總厚度變化 (TTV)
    Total Thickness Variation
    石英玻璃晶圓厚度的最大值和最小值間的差。
    平 整 度
    Flatness
    石英玻璃晶圓一個表面為理想平面時,另一表面相對于基準面的偏差,以測量范圍內總的示值讀數(TIR)表示。
    彎 曲度
    Bow
    自由無夾持的石英玻璃晶圓中位面的中心點與中位面基準平面間的偏離。
    翹曲度
    Warp
    自由無夾持的石英玻璃晶圓中位面相對于參照平面的最大和最小距離之差。

    GB/T 34177-2017 中提到的儀器設備

    分度值游標卡尺
    精度不低于0.02mm
    用于測量直徑及偏差。
    激光測厚儀
    精度不低于1μm
    用于測量厚度及偏差。
    激光干涉儀
    波長632.8nm,精度0.05μm
    用于測量平整度、彎曲度和翹曲度。

    激光干涉儀

    APRE S100/HR

    臥式激光干涉儀

    HL HOOL L6600A

    球面鏡輪廓儀

    HL HOOL L8400A


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