SJ/T 10473-1994
函數信號發生器測試方法
Test method for function generators
SJT10473-1994, SJ10473-1994
2013-12
SJ/T 10473-1994 中，可能用到以下儀器
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- 標準號
- SJ/T 10473-1994
- 別名
- SJT10473-1994
SJ10473-1994 - 發布
- 1994年
- 發布單位
- 行業標準-電子
- 替代標準
- SJ/T 10472-2013
- 當前最新
- SJ/T 10472-2013
本標準適用于SJ/T 10472《函數信號發生器技術條件》所規定范圍內的函數信號發生器。
專題
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函數信號發生器的幾種實現方法
（1）用分立元件組成的函數發生器：通常是單函數發生器且頻率不高，其工作不很穩定，不易調試。 （2）可以由晶體管、運放IC等通用器件制作，更多的則是用專門的函數信號發生器IC產生。早期的函數信號發生器IC，如L8038、BA205、XR2207/2209等，它們的功能較少，精度不高，頻率上限只有300kHz...